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ROHS X荧光光谱仪测试方法
点击次数:0发布时间:2023/4/26 16:14:53

更新日期:2023/4/26 16:14:53
所 在 地:中国大陆
产品型号:EDX1800E
优质供应
详细内容
- 企业类型:制造商
- 新旧程度:新
- 原产地:江苏昆山
- 适用行业:电子电器,油漆油墨涂料,玩具首饰,皮革鞋材等
- 测试样品材质:固体,液体和粉末
- 测量范围:S-U
- 测试时间:60-300秒可调
X荧光光谱仪测试方法: 产品简介
1、X荧光光谱仪样品制备
进行x射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。无论什么样品,样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误筹;化学组成相同,热处理过程不同的样品,得到的计数率也不同;成份不均匀的金属试样要重熔,快速冷却后车成圆片;对表面不平的样品要打磨抛光;对于粉末样品,要研磨至300目400目,然后压成圆片,也可以放人样品槽中测定。对于固体样品如果不能得到均匀平整的表面,则可以把试样用酸溶解,再沉淀成盐类进行测定。对于液态样品可以滴在滤纸上,用红外灯蒸干水份后测定,也可以密封在样品槽中。总之,所测样品不能含有水、油和挥发性成份,更不能含有腐蚀性溶剂。
2、X荧光光谱仪定性分析
不同元素的荧光x射线具有各自的特定波长或能量,因此根据荧光x射线的波长或能量可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于定晶面间距的晶体,由检测器转动的2e角可以求出x射线的波长入,从而确定元素成份。对于能量色散型光谱仪,可以由通道来判别能量,从而确定是何种元素及成份。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时,仍需人工鉴别。首先识别出x光管靶材的特征x射线和强峰的伴随线,然后根据能量标注剩余谱线。在分析未知谱线时,要同时考虑到样品的来源、性质等元素,以便综合判断。
3、X荧光光谱仪定量分析
X射线荧光光谱法进行定量分析的根据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is为Ci=100%时,该元素的荧光X射线的强度。根据上式,可以采用标准曲线法、增量法、内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似,否则试样的基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化,会影响样品对次X射线和X射线荧光的吸收,也会改变荧光增强效应。例如,在测定不锈钢中Fe和Ni等元素时,由于次X射线的激发会产生Nika荧光X射线,Nika在样品中可能被Fe吸收,使Fe激发产生Feka。测定Ni时,因为Fe的吸收效应使结果偏低,测定Fe时,由于荧光增强效应使结果偏高。
ROHS X荧光光谱仪测试方法
ROHS X荧光光谱仪测试方法
X荧光光谱仪如何建立面向应用的标样
如何建立面向应用的标准样品呢?可以从以下几步实施:
1、先将用户要检测的样品材料进行分类,将不同材质的样品分成不同类别。
2、同类别的材料再按其基材和主要组份分类。
3、同基材的材料按照其主要组份进行归化分类。
4、确认归化的材料的组份差别控制在可容许范围内,并确认其中应无影响谱线的不确定特征干扰元素出现,或者按照供应商进行分类。
5、在1-4步基础上(用户可根据自己需要的度和可操作性选择进行到那步)后细分的类别,使用ICP_OES和GC_MS等仪器对其中的主要组份、相关组分和待测组分进行定量分析。
6、根据用户需要,不断扩充标准样品种类,并对应材料使用者进行对应的物料编号或使用用户编号,使操作员能使用对应的标准曲线进行该类材料的检测。
ROHS X荧光光谱仪测试方法
ROHS X荧光光谱仪测试方法