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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

点击次数:608发布时间:2009/11/2 0:00:00

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:日本

产品型号:

简单介绍:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

相关标签:离子质谱仪 离子质谱 

优质供应

详细内容

技术参数

1.空间分辨率:使用25千伏Ga脉冲离子束,使用PHI提供的监测结构,空间分辨率*120 nm
2.质量精确度: 在小于m/z = 100情况下,*2 mamu,在大于m/z = 100,<10 ppm
3.传输率: 40%的原子,90%的分子,数值由离子光学模拟计算得出。

主要特点

1.标准配置In,Ga离子枪,还可以选配Cs/O离子源和Au离子源
2.高灵敏度,高成像清晰度,无阴影效应
3.动态范围宽

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【已认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

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