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覆层测厚仪|薄膜测厚仪TT240
点击次数：150发布时间：2011/2/24 15:09:09
更新日期：2016/6/29 10:35:33
所 在 地：中国大陆
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相关标签：覆层测厚仪 薄膜测厚仪TT240
优质供应
详细内容
涂层测厚仪技术参数
- 测头类型：N
- 测量原理：电涡流
- 测量范围： 0-1250um | 0-40um（铜上镀铬）
- 低限分辨力：1µm（10um以下为0.1um）
- 探头连接方式：分体式导线连接
- 示值误差：
- 一点校准（um）：±[3%H+1.5]
- 两点校准（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
- 测量条件：
- *小曲率半径（mm）：凸3 | 凹10
- 基体*小面积的直径（mm）：ф5
- *小临界厚度（mm）：0.3
- 温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
- 统计功能：平均值、值（MAX）、*小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
- 工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
- 测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
- 上下限设置：无
- 存储能力：350个测量值
- 打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑
- 关机方式：手动和自动
- 电源：二节AA型碱性电池
- 外形尺寸：152×47×35mm
- 重量：370g
