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集成电路高温动态老化系统
点击次数：57发布时间：2014/7/29 16:52:24
更新日期：2014/9/1 8:34:30
所 在 地：中国大陆
产品型号：nc100
相关标签：集成电路高温动态老化系统
优质供应
详细内容
| 集成电路高温动态老化系统 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 产品详情 符合标准：GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB 597（等同MIL-M-38510） 适用范围： 适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和SOC电路、微处理器、存储器等微电子电路进行高温动态老化试验。 工作特性: ● 一板一区工作方式，*多可同时进行16种规格、批次的器件进行筛选试验，适应多品种、小批量。 ● 超温报警装置，确保温度条件安全施加。 ● 可检测各组电源工作情况及试验箱温度并描绘其与时间相关的曲线。 ● 软件全编辑信号产生方式，可满足包括存储器在内的多种集成电路器件的动态老化要求。 ● 集成的用户软件包基于WINDOWS平台开发，功能完备并有良好的可扩展性。 ● 主从式RS485全双工高速串行通讯接口，远距离通讯能力强，数据传输安全可靠。 ● 试验容量和系统分区可根据实际情况另行配置。 ● 试验箱可选择两个小型试验箱，每个试验箱装8块老化板，可同时进行两个温度条件的试验。 ● 可提供专用调式台，具备独立的DUT试运行接口和维修接口，方便试验前或试验中对DUT和老化板进行试验状态检查。 电子电路进行高温动态老化试验。 技术性能：
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