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梅特勒XP/XS微量天平
XP2U/XP6
1. 采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
2. 天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确
3. GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
4. 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
5. 丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
6. 标配CarePacSR，用于天平的日常测试，确保获得准确称量结果
XS3DU
1. 采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
2. 优化天平适应性的参数设置，满足不同称量环境要求
3. 丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
4. GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
| 型号 | XP2U | XP6 | XS3DU |
| 称量值（g） | 2.1 | 6.1 | 0.8/3.1 |
| 可读性（mg） | 0.0001 | 0.001 | 0.001/0.01 |
| 重复性（sd）（mg） | 0.00025 | 0.0008 | 0.0008/0.006 |
| 线性误差（mg） | 0.0015 | 0.004 | 0.01 |
| 典型稳定时间（s） | 10 | 7 | 6 |
| 秤盘尺寸（mm） | φ16 | φ27 | φ27 |
DU=双量程；sd=标准偏差
