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梅特勒XP微量天平
XP26/XP56
1. 采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求
2. 天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确
3. GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
4. 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
5. 完全可拆卸，清晰的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
6. 丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
| 型号 | XP26 | XP26DR | XP56 | XP56DR |
| 称量值（g） | 22 | 5.1/22 | 52 | 11/52 |
| 可读性（mg） | 0.001 | 0.002/0.01 | 0.001 | 0.002/0.01 |
| 重复性（sd）（mg） | 0.0025 | 0.002/0.008 | 0.006 | 0.002/0.014 |
| 线性误差（mg） | 0.006 | 0.01 | 0.02 | 0.03 |
| 典型稳定时间（s） | 3.5 | 3.5/2.5 | 3.5 | 3.5/2.5 |
| 秤盘尺寸（mm） | 40*40 | 40*40 | 40*40 | 40*40 |
DU=双量程；sd=标准偏差
