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铝膜测厚仪 铝膜包装测厚

点击次数：64发布时间：2014/1/11 5:39:59

铝膜测厚仪 铝膜包装测厚

更新日期：2022/6/27 12:27:28

所 在 地：中国大陆

产品型号：

简单介绍：铝膜测厚仪 铝膜包装测厚 随着新型包装材料发展,要求阻透性薄膜上真空沉积大约35NM的铝涂敷层，因而极大提高了薄膜对气体的阻透性，这是因为气体和芳香都不会在金属中相溶，金属层的存在也能保护包装物，使其避光，铝膜的厚度直接影响膜阻透性。因此，测试和控制铝膜厚度就显得尤为重要，AT-LM型测厚仪广泛应用软包装行业中,而且测试方便迅速。

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详细内容

 

铝膜测厚仪 铝膜包装测厚

 

 

 

 

铝膜测厚仪
发布时间：2013-04-3
铝膜测厚仪
产品介绍
  
 
 
     随着新型包装材料发展,要求阻透性薄膜上真空沉积大约35NM的铝涂敷层，因而极大提高了薄膜对气体的阻透性，这是因为气体和芳香都不会在金属中相溶，金属层的存在也能保护包装物，使其避光，铝膜的厚度直接影响膜阻透性。因此，测试和控制铝膜厚度就显得尤为重要，AT-LM型测厚仪广泛应用软包装行业中,而且测试方便迅速。
 
 
技术参数
  
 
 
量程范围：                  0-1000埃
分辨率：                    10埃
测量准确度：                ≤±3%（F.S）
读数重现性（同一测试点）：   30埃
应用对象 ：                 软包装新材料
 
注：1微米＝1000纳米＝10000埃

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  • 企业类型：生产商
  • 注册资金：人民币万

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