FISCHER菲希尔涂镀层测厚仪XAN150 华东总代理 技术规格 测量项目 用途 详细说明：
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FISCHERSCOPE®-X-RAY XAN® 150是一款应用广泛的能量色散型x射线光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。特别适用于无损测量镀层厚度及分析材料组成。

为了使每次测量都能在*优的条件下进行，XAN150配备了可电动调整的多种准直器及基本滤片。*新型的硅漂移接收器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。

由于采用了基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可*多同时测量从铝（13）到铀（92）的24种元素。

本款仪器有着出色的精确性以及长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器了。对于高精度要求的测量，则可随时进行必要的校准。

优秀的人体工程学设计，简单易学的操作过程，快速准确的结果计算和数据输出，是本款仪器的突出优点。

XAN150特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层的结构十分复杂或是组分含量非常微小，XAN150都能准确测量。

典型的应用领域有：
1.在电子和半导体工业中，测量功能性镀层，镀层厚度*薄可低至数纳米
2.出于保护消费者目的的痕量检测，如玩具中的铅含量等
3.在珠宝手表业及金属采矿业中，以的精度要求，分析合金成分
4.大学中的学术研究以及工业领域的技术研发

通用规范：
用途：能量色散X射线荧光光谱仪 （EDXRF） 用来测量超薄镀层，分析合金和微量组分。
可测量元素范围：可同时测量从铝（13）到铀（92）中的24种元素
设计理念：桌上仪器，向上开启舱门
测量方向：由下往上

样品平台：
设计：固定样品平台
样品放置可用区域：318 x 327mm
样品重量：2kg
样品高度：86mm