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工业领域希望能有一种小型轻巧式的红外测温仪，然而这种小型便携的温度校验仪，必须克服由于体积减小而造成的温场均匀性不良和稳定性差的弊端，要使温度升降在较短的时间内达到稳定，必然要有加温和冷却的密切配合，都能使升温降温时间减少，在小型化恒温槽内冷却和加温又影响到温场均匀性，所以综合各方面的因素，达到超小体积而具有一定精确度，快速升降温的便携式温度校正仪，是温度测量技术领域中多年探索研制渴望得到的现场应用仪器。所以，激光测温仪是我们平时操作现场时必不可少的仪器。
CEM红外测温仪DT-883北京金泰科仪直销测温仪原理
红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。
在自然界中，一切温度高于绝对零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射能量的大小及其按波长的分布 —— 与它的表面温度有着十分密切的关系。因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度，这就是红外辐射测温所依据的客观基础。
红外测温仪原理黑体是一种理想化的辐射体，它吸收所有波长的辐射能量，没有能量的反射和透过，其表面的发射率为 1。但是，自然界中存在的实际物体，几乎都不是黑体，为了弄清和获得红外辐射分布规律，在理论研究中必须选择合适的模型，这就是普朗克提出的体腔辐射的量子化振子模型，从而导出了普朗克黑体辐射的定律，即以波长表示的黑体光谱辐射度，这是一切红外辐射理论的出发点，故称 黑体辐射定律。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。因此，为使黑体辐射定律适用于所有实际物体，必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数，即发射率。该系数表示实际物体的热辐射与黑体辐射的接近程度，其值在零和小于 1 的数值之间。根据辐射定律，只要知道了材料的发射率，就知道了任何物体的红外辐射特性。影响发射率的主要因素在：材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。
当用红外辐射测温仪测量目标的温度时首先要测量出目标在其波段范围内的红外辐射量，然后由测温仪计算出被测目标的温度。单色测温仪与波段内的辐射量成比例;双色测温仪与两个波段的辐射量之比成比例。
CEM红外测温仪DT-883北京金泰科仪直销产品特点：
·非接触红外测温仪，内置式激光瞄准，测量温度 -50～850℃。
·迷你设计，小巧轻便，易于使用。
·固定发射率（0.95）可达到90%的日常需要。
·距离与目标尺寸比为 10:1。
·自动选择量程，分辨率为0.1℃或0.1℉。
·℃/℉可转换和7秒钟后自动关机功能。
·量程过载时可蜂鸣报警, 显示屏上提示“OVER”。
·超大３1/2（1999 位）多功能带背光液晶显示屏。
·放开测量按键后数据自动保持。
·附件：9V 电池、软皮袋、说明书、合格证及保修卡。
·规格/重量： 82×41×160 毫米/180 克。
EMC EN:50081-1,50082-1 EN:60825-1
CEM红外测温仪DT-883北京金泰科仪直销技术指标:
迷你型红外测温仪 DT-883H (D:S=10:1)：
量 程 分辨率 基本精确度
DT-883H -50℃～850℃ 0.1℃ ±1.5%
-58℉～1562℉0.1℉
CEM红外测温仪DT-883北京金泰科仪直销使用时应注意
定位热点，要发现热点，仪器瞄准目标，然后在目标上作上下扫描运动，直至确定热点。
不能透过玻璃进行测温，玻璃有很特殊的反射和透过特性，不允许精确红外温度读数。但可通过红外窗口测温。红外测温仪不用于光亮的或抛光的金属表面的测温(不锈钢、铝等)。
只测量表面温度，红外测温仪不能测量内部温度。
注意环境条件：蒸汽、尘土、烟雾等。它阻挡仪器的光学系统而影响精确测温。
环境温度，如果测温仪突然暴露在环境温差为20℃或更高的情况下，允许仪器在20分钟内调节到新的环境温度。
1、为了避免损坏红外测温仪，请首先使用压缩空气清除大的颗粒和灰尘，然后用一块布擦拭。
2、轻轻使用略微沾湿标明用于清洁镜头的非腐蚀性溶液或是温和的稀释肥皂溶液(溶液或是温和的稀释肥皂溶液(绝对不要使用溶的软棉布擦拭镜头(不要将布浸入液体中)剂)的软棉布擦拭镜头(不要将布浸入液体中)。使用干净的电脑监视器清洁布轻轻擦拭显示屏。
3、使用干净的电脑监视器清洁布轻轻擦拭显示屏。
4、使用干净略湿的布轻轻擦拭测温仪机身。如有需要，可用水加少量温和肥皂配成的溶液将布浸湿。
5、当使用完成后，请尽快将红外测温仪盖上镜头盖，并放入携带箱内保存。
