GDJD-600型高低温介电性能测量系统（四通道测试，同时测试4个样品） 

关键词：高低温介电测量仪，高、低温介电测量系统， 

产品介绍： 

   GDJD-600型高温介电性能测量系统主要应用于高低温下材料的介电性能测 

试与分析，包括介电常数、介电损耗、电容等参数，同时测试出测试材料的其 

他阻抗参数，广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究 。 

一、产品优势: 

1.实现室温-140°C-800°C的低高温介电转换测量 

2.四通道测试,可以同时测试1-4个样品，方便快捷 

3.数据分析软件:提供多种扫描曲线,可以在多窗口之间切换数据 

二、《符合ASTMD150和 D2149-97标准>> 

<<符合GB/T1409-2006介电常数和介电损耗的推荐方法;》 

三、产品特点

1.可以在低高温、宽频、真空条件下测量固体、薄膜样品的介电性能； 

2.可以分样品的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、时间谱等测量功能; 

3.可以测量样品的介电常数、介电损耗，电容C，损耗D，电感L，品质因数Q，阻抗Z等物理量;以实现介电常数和介电损耗随多个温度、多个频率变化的曲线，时间和电压变化的曲线； 

4、可提供块体，薄膜，单样品，四样品夹具，满足不同测试要求。 

主要技术指标：