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大样品台原子力显微镜介绍
在原子尺度工作时,定位精度非常的关键。为了确保精度,所有NTEGRA 系列产品都特别的设计了内置、闭环的电容传感器。即使当扫描区域小到50×50nm,因其超低的噪音水平(典型值小于0.1nm)仍然能在使用内置传感器的情况下对样品表面进行成像和修饰。可靠的扫描反馈确保可高精度的定量测量针尖和样品表面间的相互作用力。
对于NTEGRA而言,NTEGRA Prima 仅仅只是一个基础、核心,它所创建的纳米实验室设计了*开放的硬件、软件和信号集成的结构,为与其它仪器集成提供了接口和平台。它可以和高光谱仪、超薄切片机、大规模筛选(high-throughput screening)以及加热附件等结合,形成新一代的集成分析仪器。无论你需要的是简单的还是更加的完善和复杂的SPM,NTEGRA Prima都能提供良好的平台,保证你成功的成像和测量。
大样品台原子力显微镜特色介绍:
装有一个带集成电容传感器的可更换扫描器,可获得的扫描范围:100x100x12 µm,双扫描模式(DualScan)是NT-MDT*的技术,它采用一个可更换的底部扫描器(100x100x12µm)和一个顶部扫描器(100x100x10μm),使总的扫描范围达到:200x200x22μm;XY非线性:校正后,峰峰值0.05%,在整个扫描范围内,X-Y平面的定位精度保持在10-20纳米内;NTEGRA的控制器和机械部件可以在高达5 MHz的高频下工作,因此仪器可以使用高共振频率的悬臂,从而得到更加*的图像;同样这使得原子力声学显微镜(AFAM)的应用成为可能。该系统可以用于研究高电阻材料,例如半导体上的薄膜绝缘层、DLC和压电薄膜、导电聚合物等。
大样品台原子力显微镜产品来源:
http://www.natengyiqi.com/Products-36909646.html
https://www.chem17.com/st125795/product_36909646.html
原创作者:上海羽泉泵阀制造有限公司