标题三次元测量仪测量基面和定位方法的选择

提供者：东莞市天测光学设备有限公司发布时间：2016/5/17 阅读次数：314次 >>进入该公司展台

1. 在使用三次元测量仪前的基面选择时，应遵守基面统一原则

即三次元测量仪的测量基面、设计基面、工艺基面、装配基面相一致。如果在加工过程中由于各种原因，工艺基面和设计基面不能一致，则工序检验时，测量基面就与工艺基面一致，在装配前的终结检验时，测量基面应与装配基面一致。

2. 三次元测量仪定位方法的选择

三次元测量仪定位方法由许多因素确定，但大体上有两种情况，一是测量基面直接作为定位基面，另一种是测量基面不能作为定位基面。

最典型的定位方法有面定位和线定位。面定位又有平面定位、外圆柱面定位之分。线定位主要是顶尖定位。

① 凡本网注明"来源：易推广"的所有作品，版权均属于易推广，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品，应在授权范围内

使用，并注明"来源：易推广"。违者本网将追究相关法律责任。