您的位置:首页 > 技术文献 > 产品说明 > 吉时利Keithly 4200-SCS 半导体参数分析仪
吉时利4200-SCS型半导体特征分析系统 主要特点及优点: | |
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容易使用的吉时利4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA的分辨率。它提供了先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。 | |
KEITHLEY4200-SCS 相关应用: |
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