标题蔡司MERLIN 系列场发射扫描电镜

　　借助 MERLIN 系列场发射扫描电镜，即可在数内完成图像采集，观察清晰的原子分辨率图像及进行完整的三维表面测量与分析。无论是配备性能出色GEMINI I 镜筒的入门型 MERLIN Compact 电镜，或是配备高分辨率 GEMINI II镜筒的型 MERLIN 电镜，MERLIN 系列均是未来稳固投资的*之选：场发射扫描电镜协助您更好地应对未来工作中的各种挑战。15 个探测器端口和多个分析选择，为用户提供灵活性和扩展性。

　　MERLIN 系列易于扩展，以适应不断增长的需求

　　MERLIN 系列场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)可以采集高分辨图像，做成份分析，获取样品全部信息。样品室配有用于安装探测器和多种分析功能选项的 15 个端口，协助您完成从图像采集到完整的材料分析等一系列工作。根据应用需求进行功能扩展：MERLIN 系列具备全面的可升性。

　　蔡司MERLIN系列场发射扫描电镜应用无限

　　使用原子力显微镜功能选项，以原子分辨率获取半导体样品的表面结构信息。通过增加 3View® 超

　　微切机实现大体积生物样本的三维重构。MERLIN系列的平台设计与智能化探测器技术，随时可借助即插即用扩展功能实现系统升。开放式的系统软件编程接口，可快速地整合市场上的分析解决方案。

　　全面便捷的样品分析

　　MERLIN 系列的整套探测系统由不同探测器组成：in-lens 二次电子探测器用于高分辨率成像、能量选择背散射探测器(EsB)用于低电压成份衬度成像、in-lens duo 探测器用于二次电子和背散射电

　　子成像，或角度选择背散射探测器(AsB)用于晶体表面的结构分析。适合对各种材料进行单独的分析，或与探测器信号一起获取更丰富的图像信息。这些只需根据应用选配一个或多个探测器便可实现。

　　原子力显微镜：获取深度图像

　　如若需要进行纳米表面成像，扫描电子显微镜(SEM)则是您的选择。然而，所收集到的数据往往会缺失一些附加信息：表面三维结构的呈现，或者是在低于纳米的原子尺度上还需要什么信息?

　　整合了 AFM 功能的 MERLIN 系列让这类问题迎刃而解。AFM 系统可借助样品台更换功能在几分钟内提供原子表面形貌的三维图像。由于 AFM 技术是在原子尺度上进行校正的，可为扫描电子显微镜用户提供所需分辨率。

　　蔡司MERLIN 系列场发射扫描电镜产品来源：

　　http://www.xyichuang.com.cn/Products-27324637.html

　　https://www.chem17.com/st331930/product_27324637.html