标题日本J-RAS绝缘劣化试验

　　离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ～1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

　　产品优势

　　1.简单/便利

　　△采用驱动计测，测试时焊接工序大幅减少。

　　△软件设计简单明了，能够非常直观得操作。

　　△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。

　　△测试中，设备可以单独运行，电脑电源切断也不受影响。

　　2.高性能&高机能

　　△因为每个通道都单独配有电压/计测电路，可以做到16ms的计测间隔。

　　→迁移现象的检测能力更高，对产品品质把控更精准。

　　△一台电脑大可以增设400通道。

　　△每个通道可以设定不同的电压。

　　绝缘劣化试验产品来源：

　　https://www.ybzhan.cn/st133409/list_793409.html

　　http://www.sz-skyan.com/Products-13879487.html