您好,欢迎来到易推广 请登录 免费注册

  • 高级会员服务
  • |
  • 广告位服务
  • |
  • 设为首页
  • |
  • 收藏本站
  • |
  • 企业档案

    • 会员类型:高级版会员
    • 易推广高级版会员:8
    • 工商认证【已认证】
    • 最后认证时间:
    • 注册号: 【已认证】
    • 法人代表: 【已认证】
    • 企业类型:生产商 【已认证】
    • 注册资金:人民币万 【已认证】
    • 产品数:2175

深圳市赛德力检测设备有限公司

易推广认证请放心拨打

18138400116

当前位置: 易推广 > 电子元器件 > 传感器 > 其他传感器 > 深圳市赛德力检测设备有限公司 > 产品展示 > 日本 > 日本尤尼帕斯unipulse位移传感器,原装正品位移传感器PM-E,光纤方式振动位移仪PM-E

日本尤尼帕斯unipulse位移传感器,原装正品位移传感器PM-E,光纤方式振动位移仪PM-E

价格:¥电议

品牌名称:$brandModel.Title(进口品牌)型号: 原产地:中国大陆 发布时间:2017/10/25 16:06:27更新时间:2019/6/6 9:47:18

产品摘要:高精度振动位移的测量可能是通过光纤对要测量对象物体进行光照射,根据反射光能快速地对位移和振动的变化进行非接触检测的装置。利用光进行测量,对测量物进行无载荷测量。也不受磁场和电场的影响。还有,交换式传感器模块,可以根据灵敏度·测量范围·频带·目标直径的要求进行交换·选择。追求小型化和简便性的「照片美光PM-E」,是广泛地适用在研究开发及各种产业领域的产品。

产品完善度: 访问次数:4

企业档案

会员类型:高级版会员

已获得易推广信誉   等级评定
40成长值

(0 -40)基础信誉积累,可浏览访问

(41-90)良好信誉积累,可接洽商谈

(91+  )优质信誉积累,可持续信赖

易推广高级版会员:8

工商认证 【已认证】

最后认证时间:

注册号: 【已认证】

法人代表: 【已认证】

企业类型:生产商 【已认证】

注册资金:人民币万 【已认证】

产品数:2175

参观次数:420746

手机网站:http://m.yituig.com/c75784/

商铺地址:http://

详细内容

 产品简介:

 

高精度振动位移的测量可能

 

是通过光纤对要测量对象物体进行光照射,根据反射光能快速地对位移和振动的变化进行非接触检测的装置。
利用光进行测量,对测量物进行无载荷测量。也不受磁场和电场的影响。
还有,交换式传感器模块,可以根据灵敏度·测量范围·频带·目标直径的要求进行交换·选择。
追求小型化和简便性的「照片美光PM-E」,是广泛地适用在研究开发及各种产业领域的产品。

 

■ 由于使用完全非接触方式,能广泛地利用在振动,位移,表面状态等的测量
■ 用途,地方,按照精度采用着能选择探头的插件方式
■ 抗电磁噪声性强,可以测量微小斑点
■ 低价格,能容易且迅速进行维修
 

放大器插件模块传感器模块特性表探头图纸

放大器
响应能力 100Hz,1K,10K,100KHz相互切换
表示 3 1/2位数字电压表示
模拟输出 ±10VDC
电源电压 AC 100V 50/60Hz
外形尺寸 87W×140H×306D
 
插件模块
光源 钨灯
纤维长 1m(标准)
纤维束 随机型,前卫型,同心型
 
传感器模块特性表
传感器模块No. PM-05E PM-15E PM-30E PM PM-30HE
探头外径(mm) 0.5 1.5 3.0 3.0
探头目标直径(mm) 0.25 1.1 2.5 2.5
(前坡特性)
基本灵敏度(μm/mV) 0.012 0.014 0.015 0.016
线性(测量)
范围(μm)
30 70 80 800
探头组套间隔(μm) 50 80 85 1000
(后坡特性)
基本灵敏度(μm/mV) 0.08 0.3 0.7 0.8
线性(测量)
范围(μm)
250 700 2000 3000
探头组套间隔(μm) 450 1100 2500 7000
光学高峰位置(μm) 250 350 500 4000
 
※上述特性是平均数值。根据探头的固有特性有可能产生差异。
探头图纸
纤维长的加长,尖端弯曲加工等特别订制纤维探头也可以制作。请向我们咨询。
  PM-05E PM-15E PM-30E,HE
φA 0.5 1.5 3.0
φB 0.25 1.1 2.5
 

应用案例

硬盘跳线测量:
硬盘跳线测量:
磁带偏差测量:
磁带偏差测量:
回转晃动,振动模式测量:
回转晃动,振动模式测量:
安装在各种设备里并测量:
安装在各种设备里并测量:
压电陶瓷等的振动测量:
压电陶瓷等的振动测量:
晶片检测:
晶片检测:
定位控制:
定位控制:

 

 

测量原理

照片美光·PM-E是利用非接触方式通过光纤对被测量物进行光照射,根据对反射光的检测,简单地测量出物体位移的一种装置。从被测量物反射的光量与光纤探头端面和被测量物之间距离(间隙)的变化如下图所示。在图中Ⓑ(前坡)与Ⓓ(后坡)的区域中,反射光和间隙之间的关系几乎是线性变化的,一般利用这两个区域进行位移测量。
由于一台的装置拥有两个位移检测特性,利用前坡特性对需要高分辨率时进行测量,利用后坡特性对需要宽范围时进行测量。此外,由于Ⓐ(光的峰值位置)相对于位移的灵敏度,通常被利用对被测量物的表面状态和缺陷的检测。
测量原理

中国彩虹热线

快速导航

在线咨询

提交